文献
J-GLOBAL ID:200902171232213036
整理番号:99A0029019
光学材料中の低レベル線形複屈折を測定するための改善した方法
An improved method for measuring low-level linear birefringence in optical materials.
著者 (1件):
WANG B
(Hinds Instruments, Inc., OR, USA)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
3424
ページ:
120-124
発行年:
1998年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)