文献
J-GLOBAL ID:200902171425545583
整理番号:94A0919919
LiF基板上のテクスチャをもつAu薄膜中の残留応力の起源
Origin of residual stress in a textured Au thin film on a LiF substrate.
著者 (4件):
DURAND N
(Univ. Poitiers, Poitiers, FRA)
,
BADAWI K F
(Univ. Poitiers, Poitiers, FRA)
,
DECLEMY A
(Univ. Poitiers, Poitiers, FRA)
,
GOUDEAU P
(Univ. Poitiers, Poitiers, FRA)
資料名:
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻:
81
号:
2
ページ:
119-126
発行年:
1994年10月
JST資料番号:
B0707B
ISSN:
0169-4332
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)