文献
J-GLOBAL ID:200902171556895555
整理番号:93A0976960
大面積のダイオード増幅器の横方向位相プロフィルと熱レンズ効果の干渉計による測定
Interferometric Measurement of Lateral Phase Profile and Thermal Lensing in Broad-Area Diode Amplifiers.
著者 (3件):
HALL D C
(Naval Research Lab., Washington, D.C.)
,
GOLDBERG L
(Naval Research Lab., Washington, D.C.)
,
MEHUYS D
(Spectra Diode Lab., CA)
資料名:
IEEE Photonics Technology Letters
(IEEE Photonics Technology Letters)
巻:
5
号:
8
ページ:
922-925
発行年:
1993年08月
JST資料番号:
T0721A
ISSN:
1041-1135
CODEN:
IPTLEL
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)