文献
J-GLOBAL ID:200902171671348118
整理番号:02A0641074
ナノテスター 点接触電流イメージング原子間力顕微鏡法によるナノスケールでの電気的特性評価の新しい技法
A Nano Tester: A New Technique for Nanoscale Electrical Characterization by Point-Contact Current-Imaging Atomic Force Microscopy.
著者 (4件):
OTSUKA Y
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
NAITOH Y
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
MATSUMOTO T
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KAWAI T
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters)
巻:
41
号:
7A
ページ:
L742-L744
発行年:
2002年07月01日
JST資料番号:
F0599B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)