文献
J-GLOBAL ID:200902171755320995
整理番号:98A0468288
化学的力顕微鏡によるタッピングモードでの化学的増感撮像 位相の遅れと付着の関係
Chemically-Sensitive Imaging in Tapping Mode by Chemical Force Microscopy: Relationship between Phase Lag and Adhesion.
著者 (5件):
NOY A
(Harvard Univ., Massachusetts)
,
SANDERS C H
(Harvard Univ., Massachusetts)
,
VEZENOV D V
(Harvard Univ., Massachusetts)
,
WONG S S
(Harvard Univ., Massachusetts)
,
LIEBER C M
(Harvard Univ., Massachusetts)
資料名:
Langmuir
(Langmuir)
巻:
14
号:
7
ページ:
1508-1511
発行年:
1998年03月31日
JST資料番号:
A0231B
ISSN:
0743-7463
CODEN:
LANGD5
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)