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文献
J-GLOBAL ID：200902171865409517
整理番号：02A0583024
原子間力顕微鏡を用いた合成スメクタイトに対する表面力の直接測定
Direct Surface Force Measurement for Synthetic Smectites Using the Atomic Force Microscope.
NISHIMURA S
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Saga, JPN)
,
KODAMA M
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Saga, JPN)
,
YAO K
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Saga, JPN)
,
IMAI Y
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Saga, JPN)
,
TATEYAMA H
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Saga, JPN)
資料名：
Langmuir
(Langmuir)
巻： 18 号： 12 ページ： 4681-4688 発行年： 2002年06月11日
JST資料番号： A0231B ISSN： 0743-7463 CODEN： LANGD5 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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