文献
J-GLOBAL ID:200902172075528970
整理番号:99A0736766
共焦点顕微鏡を持つ波長走査干渉計を用いる屈折率と幾何学的厚みの測定の分離
Separation of measurement of the refractive index and the geometrical thickness by use of a wavelength-scanning interferometer with a confocal microscope.
著者 (2件):
FUKANO T
(Saitama Univ., Saitama, JPN)
,
YAMAGUCHI I
(Inst. Physical and Chemical Res.(RIKEN), Saitama, JPN)
資料名:
Applied Optics
(Applied Optics)
巻:
38
号:
19
ページ:
4065-4073
発行年:
1999年07月01日
JST資料番号:
B0026B
ISSN:
1559-128X
CODEN:
APOPAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)