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文献
J-GLOBAL ID：200902172201878486
整理番号：00A0651253
X線屈折効果を用いた多孔質けい素の多孔性の測定
Measurement of Porosity of Porous Silicon Using X-Ray Refraction Effect.
MAEHAMA T
(Univ. Ryukyu, Okinawa, JPN)
,
YONAMINE A
(Univ. Ryukyu, Okinawa, JPN)
,
SONEGAWA T
(Univ. Ryukyu, Okinawa, JPN)
,
ITOH N
(Osaka Preecture Univ., Osaka, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 39 号： 6A ページ： 3649-3656 発行年： 2000年06月15日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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