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文献
J-GLOBAL ID：200902172389373785
整理番号：01A0156228
X線線光源を用いた位相シフトX線シヤリング干渉計を用いた位相イメージング
Phase Imaging with a Phase-Shifting X-ray Shearing Interferometer Using an X-ray Line Source.
IWATA K
(Osaka Prefecture Univ., Osaka, JPN)
,
KAWASAKI A
(Osaka Prefecture Univ., Osaka, JPN)
,
KIKUTA H
(Osaka Prefecture Univ., Osaka, JPN)
資料名：
Optical Review
(Optical Review)
巻： 7 号： 6 ページ： 561-565 発行年： 2000年11月
JST資料番号： L2272A ISSN： 1340-6000 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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