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文献
J-GLOBAL ID：200902172769588881
整理番号：01A0540168
熱曲げ梁試験を用いた導電性薄膜のYoung率の決定法
Determining Young’s modulus of conductive thin films by a thermal bend beam test.
SHEN W
(Huazhong Univ. Sci. and Technol., Wuhan, CHN)
,
TANG C Y
(Hong Kong Polytechnic Univ., HKG)
,
LI W
(Wuhan Univ. Hydraulic and Electric Engineering, Wuhan, CHN)
,
PENG L H
(Huazhong Univ. Sci. and Technol., Wuhan, CHN)
資料名：
Journal of Strain Analysis for Engineering Design
(Journal of Strain Analysis for Engineering Design)
巻： 36 号： 2 ページ： 163-168 発行年： 2001年03月
JST資料番号： B0868A ISSN： 0309-3247 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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