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文献
J-GLOBAL ID：200902172974379268
整理番号：93A0482551
ポリアニリンの定電位およびサイクリック電位走査析出中の不純物混入の測定
Measurement of the extent impurity incorporation during potentiostatic and cyclic potential sweep depositions of polyaniline.
CUI C Q
(National Univ. Singapore, Singapore, SGP)
,
ONG L H
(National Univ. Singapore, Singapore, SGP)
,
TAN T C
(National Univ. Singapore, Singapore, SGP)
,
LEE J Y
(National Univ. Singapore, Singapore, SGP)
資料名：
Synthetic Metals
(Synthetic Metals)
巻： 58 号： 2 ページ： 147-160 発行年： 1993年05月10日
JST資料番号： C0123B ISSN： 0379-6779 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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