文献
J-GLOBAL ID:200902173239647417
整理番号:94A0124680
40Gビット/秒までの高速ディジタル回路の特性評価に用いるコプレナ導波路テスト治具
Coplanar-waveguide test fixture for characterisation of high-speed digital circuits up to 40Gbit/s.
著者 (2件):
GRONAU G
(Fachhochschule Duesseldorf, Duesseldorf, DEU)
,
FELDER A
(Siemens AG, Munich, DEU)
資料名:
Electronics Letters
(Electronics Letters)
巻:
29
号:
22
ページ:
1939-1941
発行年:
1993年10月28日
JST資料番号:
A0887A
ISSN:
0013-5194
CODEN:
ELLEAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)