文献
J-GLOBAL ID:200902173289393815
整理番号:96A0829325
水素不動態化したシリコン表面の高純度オゾン酸化
High purity ozone oxidation on hydrogen passivated silicon surface.
著者 (2件):
KUROKAWA A
(Electrotechnical Lab., Tsukuba, JPN)
,
ICHIMURA S
(Electrotechnical Lab., Tsukuba, JPN)
資料名:
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻:
100/101
ページ:
436-439
発行年:
1996年07月
JST資料番号:
B0707B
ISSN:
0169-4332
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)