文献
J-GLOBAL ID:200902173867037423
整理番号:93A0996359
単結晶基板上の多結晶SbによるX線すれすれ入射回折
X-ray grazing incidence diffraction from polycrystalline Sb films on single-crystal substrates.
著者 (4件):
FINDEISEN E
(Christian-Albrechts-Univ. Kiel, Kiel, DEU)
,
BRUEGEMANN L
(Christian-Albrechts-Univ. Kiel, Kiel, DEU)
,
STETTNER J
(Christian-Albrechts-Univ. Kiel, Kiel, DEU)
,
TOLAN M
(Christian-Albrechts-Univ. Kiel, Kiel, DEU)
資料名:
Journal of Physics. Condensed Matter
(Journal of Physics. Condensed Matter)
巻:
5
号:
44
ページ:
8149-8158
発行年:
1993年11月01日
JST資料番号:
B0914B
ISSN:
0953-8984
CODEN:
JCOMEL
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)