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文献
J-GLOBAL ID：200902173880027283
整理番号：93A0972216
飛行時間二次イオン質量分析を用いたフラーレン金属錯体の形成及び検出
Formation and Detection of Fullerene Metal Complexes Using Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry.
ZIMMERMAN P A
(Univ. Pittsburgh, Pennsylvania)
,
HERCULES D M
(Univ. Pittsburgh, Pennsylvania)
資料名：
Applied Spectroscopy
(Applied Spectroscopy)
巻： 47 号： 10 ページ： 1545-1547 発行年： 1993年10月
JST資料番号： A0429A ISSN： 0003-7028 CODEN： APSPA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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