文献
J-GLOBAL ID:200902174350905740
整理番号:98A0172272
Asterixを使った接触X線顕微鏡法
Contact X-ray microscopy using Asterix.
著者 (9件):
CONTI A
(Univ. Milano, ITA)
,
BATANI D
(Univ. Milano, ITA)
,
BOTTO C
(Univ. Milano, ITA)
,
PICCOLI S
(Univ. Milano, ITA)
,
COTELLI F
(Univ. Milano, ITA)
,
STEAD A
(Univ. London, GBR)
,
MARRANCA A
(Univ. London, GBR)
,
EIDMANN K
(Max Planck Inst. Quantenoptik, Garching, DEU)
,
REALE L
(Univ. l’Aquila, ITA)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
3157
ページ:
218-230
発行年:
1997年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)