文献
J-GLOBAL ID:200902174457142960
整理番号:01A0564270
コンポーネント試験データに基づくシステム寿命の予測区間
Prediction Intervals for System Lifetime, Based on Component Test Data.
著者 (1件):
FUTATSUYA M
(Hirosaki Univ., Hirosaki, JPN)
資料名:
IEEE Transactions on Reliability
(IEEE Transactions on Reliability)
巻:
49
号:
4
ページ:
351-354
発行年:
2000年12月
JST資料番号:
C0448A
ISSN:
0018-9529
CODEN:
IERQAD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)