文献
J-GLOBAL ID:200902174594431979
整理番号:98A0137704
Non-contact scanning probe microscopy with sub-piconewton force sensitivity.
著者 (5件):
AOKI T
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
HIROSHIMA M
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KITAMURA K
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
TOKUNAGA M
(Japan Sci. and Technol. Corp., Osaka, JPN)
,
YANAGIDA T
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名:
Ultramicroscopy
(Ultramicroscopy)
巻:
70
号:
1/2
ページ:
45-55
発行年:
1997年12月
JST資料番号:
W0972A
ISSN:
0304-3991
CODEN:
ULTRD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)