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文献
J-GLOBAL ID：200902174662856665
整理番号：98A0451139
低エネルギー電子回折とX線光電子分光法によるZrO/W(100)表面の研究
Studies on the ZrO/W(100) surface by means of low-energy electron diffraction and X-ray photoelectron spectroscopy.
SATOH H
(Muroran Inst. Technol., Muroran, JPN)
,
KAWATA S
(Muroran Inst. Technol., Muroran, JPN)
,
NAKANE H
(Muroran Inst. Technol., Muroran, JPN)
,
ADACHI H
(Muroran Inst. Technol., Muroran, JPN)
資料名：
Surface Science
(Surface Science)
巻： 400 号： 1/3 ページ： 375-382 発行年： 1998年03月12日
JST資料番号： C0129B ISSN： 0039-6028 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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