文献
J-GLOBAL ID:200902174743494768
整理番号:98A0617795
低コヒーレンス干渉測定による透明板の位相と群屈折率および厚さの同時測定
Simultaneous measurement of the phase and group indices and the thickness of transparent plates by low-coherence interferometry.
著者 (6件):
HARUNA M
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
OHMI M
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
MITSUYAMA T
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
TAJIRI H
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
MARUYAMA H
(Kyushu Matsushita Electric Co. Ltd., Fukuoka, JPN)
,
HASHIMOTO M
(Osaka Electro-Communication Univ., Neyagawa, JPN)
資料名:
Optics Letters
(Optics Letters)
巻:
23
号:
12
ページ:
966-968
発行年:
1998年06月15日
JST資料番号:
H0690A
ISSN:
0146-9592
CODEN:
OPLEDP
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)