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文献
J-GLOBAL ID:200902174956072727   整理番号:02A0802249

0.10μmDRAM用MIM/Ta2O5キャパシタプロセスの開発

Development of MIM/Ta2O5 Capacitor Process for 0.10 μm DRAM.
著者 (9件):
浅野勇
(エルピーダメモリ)
中村吉孝
(エルピーダメモリ)
平谷正彦
(日立 中研)
生田目俊秀
(日立 日立研)
飯島晋平
(エルピーダメモリ)
佐伯智則
(日立 生産技研)
二瀬卓也
(日立超LSIシステムズ)
山本智志
(日立 デバイス開セ)
関口敏宏
(エルピーダメモリ)

資料名:
電子情報通信学会論文誌 C  (IEICE Transactions on Electronics (Japanese Edition))

巻: J85-C  号: 10  ページ: 934-943  発行年: 2002年10月01日 
JST資料番号: S0623C  ISSN: 1345-2827  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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