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文献
J-GLOBAL ID：200902175008620500
整理番号：01A0767611
顕微操作のためのCoulomb相互作用による付着粒子の引離しに要する電圧
Voltage required to detach an adhered particle by Coulomb interaction for micromanipulation.
TAKAHASHI K
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
KAJIHARA H
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
URAGO M
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
SAITO S
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
MOCHIMARU Y
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
ONZAWA T
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 90 号： 1 ページ： 432-437 発行年： 2001年07月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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