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文献
J-GLOBAL ID：200902175248370048
整理番号：97A0416537
超高真空走査型トンネル顕微鏡によるSiのナノ細線の成長
Si nanowire growth with ultrahigh vacuum scanning tunneling microscopy.
ONO T
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
SAITOH H
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
ESASHI M
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 70 号： 14 ページ： 1852-1854 発行年： 1997年04月07日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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