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J-GLOBAL ID：200902176781842250 整理番号：98A0481880

Si(100)表面のラフネスおよびSi(100)表面上のGeドットの研究

Si(100) Surface Raughness and Ge Dots on Si(100).

著者 (5件)：

二宮信幸

(広島市大)

八方直久

(広島市大)

藤原真

(広島市大)

岩松雅夫

(広島市大)

堀居賢樹

(広島市大)

資料名：

応用物理学関係連合講演会講演予稿集 (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)

巻： 45th 号： 1 ページ： 474 発行年： 1998年03月
JST資料番号： Y0054A 資料種別：会議録 (C)
発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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