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文献
J-GLOBAL ID:200902176914032310   整理番号:96A0691369

A Critical Look at the Performance Advantages and Limitations of 4H-SiC Power UMOSFET Structures.

著者 (9件):
AGARWAL A K
(Westinghouse Sci. & Technol. Center, PA)
SIERGIEJ R R
(Westinghouse Sci. & Technol. Center, PA)
SESHADRI S
(Westinghouse Sci. & Technol. Center, PA)
WHITE M H
(Lehigh Univ., PA)
MCMULLIN P G
(Westinghouse Sci. & Technol. Center, PA)
BURK A A
(Westinghouse Sci. & Technol. Center, PA)
ROWLAND L B
(Westinghouse Sci. & Technol. Center, PA)
BRANDT C D
(Westinghouse Sci. & Technol. Center, PA)
HOPKINS R H
(Westinghouse Sci. & Technol. Center, PA)

資料名:
Proceedings of the 8th International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC’s, 1996  (Proceedings of the 8th International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's, 1996)

ページ: 119-122  発行年: 1996年 
JST資料番号: K19960461  ISBN: 0-7803-3107-9  資料種別: 会議録 (C)
発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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