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文献
J-GLOBAL ID：200902177251426545
整理番号：94A0293372
In Situ Transmission Electron Microscopy of Semiconductors.
HEYDENREICH J
(Max-Planck-Inst. Mikrostrukturphysik Halle/Saale, DEU)
,
BAITHER D
(Max-Planck-Inst. Mikrostrukturphysik Halle/Saale, DEU)
,
HOEHL D
(Max-Planck-Inst. Mikrostrukturphysik Halle/Saale, DEU)
,
MESSERSCHMIDT U
(Max-Planck-Inst. Mikrostrukturphysik Halle/Saale, DEU)
資料名：
Physica Status Solidi. A. Applied Research
(Physica Status Solidi. A. Applied Research)
巻： 138 号： 2 ページ： 505-515 発行年： 1993年08月16日
JST資料番号： D0774A ISSN： 0031-8965 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： ドイツ (DEU) 言語： 英語 (EN)
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