文献
J-GLOBAL ID:200902177336893789
整理番号:98A0689598
ナノ構造銅の転位,結晶粒径及び面欠陥の高分解能X線回折及び新たなピークプロフィル解析手法による測定
Dislocations, grain size and planar faults in nanostructured copper determined by high resolution X-ray diffraction and a new procedure of peak profile analysis.
著者 (5件):
UNGAR T
(Eoetvoes Univ. Budapest, Budapest, HUN)
,
OTT S
(Eoetvoes Univ. Budapest, Budapest, HUN)
,
SANDERS P G
(Northwestern Univ., IL, USA)
,
BORBELY A
(Eoetvoes Univ. Budapest, Budapest, HUN)
,
WEERTMAN J R
(Northwestern Univ., IL, USA)
資料名:
Acta Materialia
(Acta Materialia)
巻:
46
号:
10
ページ:
3693-3699
発行年:
1998年06月12日
JST資料番号:
A0316A
ISSN:
1359-6454
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)