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文献
J-GLOBAL ID：200902177382887947
整理番号：97A0205123
FPGAのBIST用ILA試験の使用
Using ILA Testing for BIST in FPGAs.
STROUD C
(Univ. Kentucky, KY)
,
LEE E
(Univ. Kentucky, KY)
,
KONALA S
(Univ. Kentucky, KY)
,
ABRAMOVICI M
(Bell Labs-Lucent Technol., NJ)
資料名：
Proceedings. International Test Conference
(Proceedings. International Test Conference)
巻： 1996 ページ： 68-75 発行年： 1996年
JST資料番号： E0211B ISSN： 1089-3539 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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