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文献
J-GLOBAL ID：200902177391083028
整理番号：02A0599599
走査型SQUID顕微鏡を用いた組成広がり酸化マンガン薄膜の高スループット評価
High-throughput characterization of composition-spread manganese oxide films with a scanning SQUID microscope.
HASEGAWA T
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
,
KAGEYAMA T
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
,
FUKUMURA T
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
,
OKAZAKI N
(Combinatorial Materials Exploration and Technol. (COMET), Yokohama, JPN)
,
KAWASAKI M
(Combinatorial Materials Exploration and Technol. (COMET), Yokohama, JPN)
,
KOINUMA H
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
,
YOO Y K
(Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA)
,
DUEWER F
(Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA)
,
XIANG X-D
(Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA)
資料名：
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻： 189 号： 3/4 ページ： 210-215 発行年： 2002年04月28日
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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