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文献
J-GLOBAL ID：200902177576996755
整理番号：02A0022625
配線結合により誘起されるピーク雑音および遅延変動の正確なその場測定
Accurate In Situ Measurement of Peak Noise and Delay Change Induced by Interconnect Coupling.
SATO T
(Hitachi,Ltd., Tokyo, JPN)
,
SYLVESTER D
(Univ. Michigan, MI, USA)
,
CAO Y
(Univ. California, CA, USA)
,
HU C
(Univ. California, CA, USA)
資料名：
IEEE Journal of Solid-State Circuits
(IEEE Journal of Solid-State Circuits)
巻： 36 号： 10 ページ： 1587-1591 発行年： 2001年10月
JST資料番号： B0761A ISSN： 0018-9200 CODEN： IJSCBC 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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