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文献
J-GLOBAL ID：200902177602353418
整理番号：99A0112797
Ti/Al多重層ソーンプレートおよびBragg-FresnelレンズによるX線微細集束
X-ray microfocusing by Ti/Al multilayer zone plate and Bragg-Fresnel lens.
KOIKE M
(Electrotechnical Lab., Ibaraki, JPN)
,
SUZUKI I H
(Electrotechnical Lab., Ibaraki, JPN)
,
KOMIYA S
(Fujitsu Lab. Ltd., Kanagawa, JPN)
資料名：
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻： 3449 ページ： 129-132 発行年： 1998年
JST資料番号： D0943A ISSN： 0277-786X CODEN： PSISDG 資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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