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文献
J-GLOBAL ID：200902177965375871
整理番号：93A0788841
反射率差分光法,表面光吸収および偏光解析測定の間の関係
Relationship among reflectance-difference spectroscopy, surface photoabsorption, and spectroellipsometry.
HINGERL K
(Bellcore, New Jersey)
,
ASPNES D E
(Bellcore, New Jersey)
,
KAMIYA I
(Bellcore, New Jersey)
,
FLOREZ L T
(Bellcore, New Jersey)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 63 号： 7 ページ： 885-887 発行年： 1993年08月16日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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