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文献
J-GLOBAL ID：200902178188056496
整理番号：98A0244847
ガボールウェーブレットを使用したカラー液晶ディスプレイでのマクロ欠陥の検出および可視化のための方法
A Method for Detection and Visualization of Macro Defects in Color Liquid Crystal Displays by Using Gabor Wavelets.
NAKANO H
(IBM Japan, Ltd., Shiga, JPN)
,
YOSHIDA Y
(Kyoto Inst. Technol., Kyoto, JPN)
資料名：
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻： 3169 ページ： 505-516 発行年： 1997年
JST資料番号： D0943A ISSN： 0277-786X CODEN： PSISDG 資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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