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文献
J-GLOBAL ID：200902178265668351
整理番号：02A0682980
タッピングモード原子間力顕微法のための走査速度の特性評価と最適化
Characterization and optimization of scan speed for tapping-mode atomic force microscopy.
SULCHEK T
(Stanford Univ., California)
,
YARALIOGLU G G
(Stanford Univ., California)
,
QUATE C F
(Stanford Univ., California)
,
MINNE S C
(NanoDevices, California)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 73 号： 8 ページ： 2928-2936 発行年： 2002年08月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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