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文献
J-GLOBAL ID：200902178702130820
整理番号：02A0624283
1K以下におけるX線回折測定
X-ray Diffraction Measurement below 1 K.
SUZUKI H
(Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN)
,
NAHER S
(Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN)
,
SHIMOGUCHI T
(Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN)
,
MIZUNO M
(Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN)
,
RYU A
(Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN)
,
FUJISHITA H
(Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN)
資料名：
Journal of Low Temperature Physics
(Journal of Low Temperature Physics)
巻： 128 号： 1-2 ページ： 1-7 発行年： 2002年07月
JST資料番号： E0115C ISSN： 0022-2291 CODEN： JLTPAC 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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