文献
J-GLOBAL ID:200902178732894360
整理番号:97A0028237
高分解能透過形電子顕微鏡によるCo合金薄膜の積層欠陥密度の解析
Analyses of Stacking Fault Density in Co-Alloy Thin Films by High-Resolution Transmission Electron Microscopy.
著者 (2件):
ISHIKAWA A
(Hitachi Ltd., Kanagawa, JPN)
,
SINCLAIR R
(Stanford Univ., CA, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Magnetics
(IEEE Transactions on Magnetics)
巻:
32
号:
5 Pt 1
ページ:
3605-3607
発行年:
1996年09月
JST資料番号:
A0339B
ISSN:
0018-9464
CODEN:
IEMGAQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)