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文献
J-GLOBAL ID：200902178764047759
整理番号：02A0294014
組合せ回路における多重及び単一故障シミュレーションを用いた多重縮退故障の診断
On Diagnosing Multiple Stuck-at Faults Using Multiple and Single Fault Simulation in Combinational Circuits.
TAKAHASHI H
(Ehime Univ., Ehime, JPN)
,
BOATENG K O
(Ehime Univ., Ehime, JPN)
,
SALUJA K K
(Univ. Wisconsin, WI, USA)
,
TAKAMATSU Y
(Ehime Univ., Ehime, JPN)
資料名：
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 21 号： 3 ページ： 362-368 発行年： 2002年03月
JST資料番号： B0142C ISSN： 0278-0070 CODEN： ITCSDI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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