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文献
J-GLOBAL ID：200902180689904742
整理番号：98A0610447
コアによって構成されるシステムLSIのテスト手法 テストの効率を考慮したBISTと外部テストの組み合わせ
A Method of Testing Time Minimization for Core-Based System LSIs.
SUGIHARA M
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
DATE H
(Inst. Systems & Information Technol./KYUSHU, Fukuoka, JPN)
,
YASUURA H
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 98 号： 68(FTS98 36-49) ページ： 101-107 発行年： 1998年05月22日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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