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文献
J-GLOBAL ID：200902180982017939
整理番号：94A0370935
走査型マクスウェル応力顕微鏡による表面の電気的イメージング
Electrical Imaging of Surfaces by Scanning Maxwell Stress Microscopy.
横山浩
(電総研)
,
井上貴仁
(電総研)
,
伊藤順司
(電総研)
資料名：
日本物理学会誌
巻： 49 号： 4 ページ： 281-286 発行年： 1994年04月
JST資料番号： F0221A ISSN： 0029-0181 CODEN： NBGSA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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