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文献
J-GLOBAL ID：200902182512463110
整理番号：00A0516814
ギガHzウエハ上CMOS分離測定のための4段階法
A Four-Step Method for De-Embedding Gigahertz On-Wafer CMOS Measurements.
KOLDING T E
(Aalborg Univ., Aalborg, DNK)
資料名：
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 47 号： 4 ページ： 734-740 発行年： 2000年04月
JST資料番号： C0222A ISSN： 0018-9383 CODEN： IETDAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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