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文献
J-GLOBAL ID:200902182750412915   整理番号:97A0419952

誘電率測定で解析したコメ培養細胞の凍結による損傷

Freezing Injury of Cultured Rice Cells Analyzed by Dielectric Measurement.
著者 (6件):
ISHIKAWA E
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
BAE S-K
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
MIYAWAKI O
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
NAKAMURA K
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
SHIINOKI Y
(Snow Brand Co. Ltd., Saitama, JPN)
ITO K
(Snow Brand Co. Ltd., Saitama, JPN)

資料名:
Journal of Fermentation and Bioengineering  (Journal of Fermentation and Bioengineering)

巻: 83  号:ページ: 222-226  発行年: 1997年03月 
JST資料番号: G0535B  ISSN: 0922-338X  CODEN: JFBIEX  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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