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文献
J-GLOBAL ID：200902183010157292
整理番号：02A0218219
X線反射能を用いることによる銀ナノ粒子から成る単分子膜および規則正しく積み重なった多重層の構造特性評価
Structural characterization of monolayer and regularly stacked multi-layers composed of silver nanoparticles by using X-ray reflectivity.
KUWAJIMA S
(National Inst. Materials and Chemical Res., Tsukuba, JPN)
,
OKADA Y
(National Inst. Materials and Chemical Res., Tsukuba, JPN)
,
YOSHIDA Y
(National Inst. Materials and Chemical Res., Tsukuba, JPN)
,
ABE K
(National Inst. Materials and Chemical Res., Tsukuba, JPN)
,
TANIGAKI N
(National Inst. Materials and Chemical Res., Tsukuba, JPN)
,
YAMAGUCHI T
(National Inst. Materials and Chemical Res., Tsukuba, JPN)
,
NAGASAWA H
(Osaka City Univ., Osaka, JPN)
,
SAKURAI K
(National Res. Inst. Metals, Tsukuba, JPN)
,
YASE K
(National Inst. Materials and Chemical Res., Tsukuba, JPN)
資料名：
Colloids and Surfaces. A. Physicochemical and Engineering Aspects
(Colloids and Surfaces. A. Physicochemical and Engineering Aspects)
巻： 197 号： 1/3 ページ： 1-5 発行年： 2002年02月04日
JST資料番号： A0539B ISSN： 0927-7757 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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