文献
J-GLOBAL ID:200902183565631747
整理番号:97A1019202
SrBi2Ta2O9膜の低温形成とAl/SrBi2Ta2O9/CeO2/Si(100)構造による金属/強誘電体/絶縁体/半導体電界効果トランジスタの作製
Preparation of SrBi2Ta2O9 Film at Low Temperatures and Fabrication of a Metal/Ferroelectric/Insulator/Semiconductor Field Effect Transistor Using Al/SrBi2Ta2O9/CeO2/Si(100) Structures.
著者 (5件):
HIRAI T
(Asahi Chemical Ind. Co., Ltd., Shizuoka, JPN)
,
FUJISAKI Y
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
NAGASHIMA K
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
KOIKE H
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
TARUI Y
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
36
号:
9B
ページ:
5908-5911
発行年:
1997年09月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)