文献
J-GLOBAL ID:200902184463463218
整理番号:93A0734884
Localization of crystallographic defects in failed laser diodes using optical probes.
著者 (7件):
SERRA L
(Centro Studi E Laboratori Telecomunicazioni S.p.A., Torino, ITA)
,
AZZINI G A
(Centro Studi E Laboratori Telecomunicazioni S.p.A., Torino, ITA)
,
DE FRANCESCHI R
(Centro Studi E Laboratori Telecomunicazioni S.p.A., Torino, ITA)
,
LIBERATORE M
(Centro Studi E Laboratori Telecomunicazioni S.p.A., Torino, ITA)
,
MANCINI M
(Centro Studi E Laboratori Telecomunicazioni S.p.A., Torino, ITA)
,
MANZONE G
(Centro Studi E Laboratori Telecomunicazioni S.p.A., Torino, ITA)
,
MONTANGERO P
(Centro Studi E Laboratori Telecomunicazioni S.p.A., Torino, ITA)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
1850
ページ:
250-259
発行年:
1993年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)