文献
J-GLOBAL ID:200902184925184115
整理番号:93A0915825
Mid- and near-IR ellipsometry of Y1-xPrxBa2Cu3O7 epitaxial films.
著者 (7件):
HUMLICEK J
(Max-Planck-Inst. Festkoerperforschung, Stuttgart, DEU)
,
KAMARAS K
(Max-Planck-Inst. Festkoerperforschung, Stuttgart, DEU)
,
KIRCHER J
(Max-Planck-Inst. Festkoerperforschung, Stuttgart, DEU)
,
HABERMEIER H-U
(Max-Planck-Inst. Festkoerperforschung, Stuttgart, DEU)
,
CARDONA M
(Max-Planck-Inst. Festkoerperforschung, Stuttgart, DEU)
,
ROESELER A
(Inst. Spektrochemie und Angewandte Specktroskopie, Berlin, DEU)
,
STEHLE J-L
(SOPRA, Bois-Colombes, FRA)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
234
号:
1/2
ページ:
518-521
発行年:
1993年10月25日
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)