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文献
J-GLOBAL ID：200902184987252397
整理番号：93A0511028
ガラス中の亀裂の光電子的計測
Optoelectronic crack measurement in glass.
Risse in Glaesern optoelektronisch ausmessen.
ST RISSE
(Fraunhofer-Einrichtung fuer Angewandte Optik und Feinmechanik, Jena)
,
SCHNAPP J D
(Friedrich-Schiller-Univ., Jena)
資料名：
Materialpruefung
(Materialpruefung)
巻： 35 号： 4 ページ： 98-100 発行年： 1993年04月
JST資料番号： D0278A ISSN： 0025-5300 CODEN： MTPRA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： ドイツ (DEU) 言語： ドイツ語 (DE)
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