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文献
J-GLOBAL ID：200902185253014832
整理番号：94A0156068
太陽極短紫外放射照度の絶対測定用の高密度透過回折格子技術と高効率シリコンフォトダイオードを用いた垂直入射分光光度計
Normal incidence spectrophotometer with high-density transmission grating technology and high-efficiency silicon photodiodes for absolute solar extreme-ultraviolet irradiance measurements.
OGAWA H S
(Univ. Southern California, California)
,
MCMULLIN D R
(Univ. Southern California, California)
,
JUDGE D L
(Univ. Southern California, California)
,
KORDE R
(International Radiation Detectors, California)
資料名：
Optical Engineering
(Optical Engineering)
巻： 32 号： 12 ページ： 3121-3125 発行年： 1993年12月
JST資料番号： B0577B ISSN： 0091-3286 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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