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文献
J-GLOBAL ID：200902185261739935
整理番号：99A0258150
弾道電子放出分光によって調べたAu/CaF2/Si(111)構造におけるホットエレクトロン輸送
Hot-electron transport through Au/CaF2/Si(111) structure studied by ballistic electron emission spectroscopy.
SUMIYA T
(Japan Sci. and Technol. Corp., Yokohama, JPN)
,
HONDA K
(Japan Sci. and Technol. Corp., Yokohama, JPN)
,
MIURA T
(Japan Sci. and Technol. Corp., Yokohama, JPN)
,
TANAKA S
(Japan Sci. and Technol. Corp., Yokohama, JPN)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 85 号： 2 ページ： 941-946 発行年： 1999年01月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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