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文献
J-GLOBAL ID：200902185361553448
整理番号：95A0775506
誘導高Tc超伝導障害電流制限器の短絡回路試験性能
Short Circuit Test Performance of Inductive High Tc Superconducting Fault Current Limiters.
WILLEN D W A
(VPTI Hydro-Quebec, Quebec, CAN)
,
CAVE J R
(VPTI Hydro-Quebec, Quebec, CAN)
資料名：
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
(IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻： 5 号： 2 Pt 1 ページ： 1047-1050 発行年： 1995年06月
JST資料番号： W0177A ISSN： 1051-8223 CODEN： ITASE9 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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