文献
J-GLOBAL ID:200902185511884790
整理番号:93A0409312
Scanning x-ray microscope project at HEFEI.
著者 (4件):
LEI X
(Univ. Science and Technology of China, Anhui, CHN)
,
ZHAO Y
(Univ. Science and Technology of China, Anhui, CHN)
,
WANG M
(Univ. Science and Technology of China, Anhui, CHN)
,
XIE X
(Univ. Science and Technology of China, Anhui, CHN)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
1741
ページ:
104-111
発行年:
1993年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)